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亦?新蟲 (小有名氣)
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[求助]
關于掃描電鏡與背散射成像的問題 已有6人參與
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| 觀察掃描電鏡之前將金屬樣品腐蝕的目的是什么,不腐蝕可以觀察嗎? 相同的問題對于背散射是怎樣的? |

榮譽版主 (文壇精英)
懶羊羊V2.0版
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專家經驗: +234 |

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木蟲之王 (文學泰斗)
peterflyer
專家顧問 (知名作家)
材料人
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專家經驗: +552 |
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SEM觀察形貌是二次電子(SE)成像,電子發(fā)射于樣品表層,如光鏡一樣需要形成明暗襯度,二次電子在樣品表面出現襯度需要浮凸,即有斜坡的地方二次電子在熒光屏上的產額多就更亮,若拋光良好不腐蝕,表面就是個大平板,無二次電子分布的明暗襯度; 背散射電子(BSE)也是SEM中重要成像信號,電子發(fā)射于較為深層,其主要貢獻于成分差別造成的襯度,對比二次電子成像圖會發(fā)現其顯得平面化,不如SE有立體感;此外,由于BSE發(fā)射于樣品表面較深處,往往能體現出取向差異的襯度,如對于退火再結晶的樣品,不需侵蝕就可以用BSE信號觀察晶粒形貌,對于像超低碳鋼、高純鋁的退火再結晶樣品晶界侵蝕非常難,不如用BSE成像觀察,會有意想不到的效果 |

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