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歐姆接觸 與 肖特基勢(shì)壘的差別 已有1人參與
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| 歐姆接觸跟肖特基勢(shì)壘的差別是什么?? 求大神幫助。 |
待下載 | 半導(dǎo)體物理方面 | 光催化 |
木蟲(chóng) (小有名氣)
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參考劉恩科的《半導(dǎo)體物理》: ”金屬與N型半導(dǎo)體接觸時(shí),若金屬功函數(shù)大于半導(dǎo)體功函數(shù),則在半導(dǎo)體中電子向金屬轉(zhuǎn)移,在半導(dǎo)體體表面形成一個(gè)正的空間電荷區(qū),其中電場(chǎng)方向由體內(nèi)指向表面,形成阻擋層;若金屬功函數(shù)小于半導(dǎo)體功函數(shù),則電子從金屬流向半導(dǎo)體,形成反阻擋層,它對(duì)半導(dǎo)體和金屬的接觸電阻影響很小,實(shí)驗(yàn)中察覺(jué)不到。“ 如何確定金屬和半導(dǎo)體功函數(shù)的高低,回答這個(gè)問(wèn)題之前,我先引用書(shū)中的一些描述:大量的測(cè)量結(jié)果表明,不同的金屬,雖然功函數(shù)相關(guān)很大,而對(duì)比起來(lái),它們與半導(dǎo)體接觸里弄碭勢(shì)壘高度相關(guān)卻很小。金屬功函數(shù)對(duì)勢(shì)壘高度沒(méi)有多大影響。進(jìn)一步研究提示出,這是由于半導(dǎo)體表面存在表面態(tài)的緣故。 如果你想采用實(shí)驗(yàn)的手段來(lái)確定金屬與半導(dǎo)體功函數(shù)的高低,以下是我的想法,不一定對(duì),你可以了解一下。 原理上你可以測(cè)量半導(dǎo)體的電子親和能,再根據(jù)半導(dǎo)體的摻雜來(lái)計(jì)算導(dǎo)帶底能級(jí)與費(fèi)米能級(jí)之間的關(guān)系來(lái)確定費(fèi)米能級(jí),根據(jù)二者可以得到半導(dǎo)體功函數(shù)。但實(shí)際上半導(dǎo)體的表面態(tài)會(huì)影響測(cè)量結(jié)果。 |
木蟲(chóng) (小有名氣)
木蟲(chóng) (小有名氣)
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既然你已經(jīng)搜索答案了,我就不太確定你到底想知道什么樣的差別。我大致說(shuō)一下,如果有疑問(wèn)歡迎繼續(xù)追問(wèn)。 歐姆接觸和肖特基勢(shì)壘的差別主要體現(xiàn)在電流電壓特性上,也就是所謂的整流特性。歐姆接觸不具有整流特性,正向電壓無(wú)論加在電極的哪一端,電流都和電壓成正比,類(lèi)似于一個(gè)小電阻的作用。 而肖特基接觸和pn結(jié)二極管類(lèi)似,存在一個(gè)勢(shì)壘,在接觸面附近有耗盡層(空間電荷區(qū))存在,這個(gè)是由于和金屬接觸的半導(dǎo)體材料的功函數(shù)與金屬功函數(shù)不同導(dǎo)致的。在這里要說(shuō)明一下,歐姆接觸也是金屬與半導(dǎo)體的接觸,但是由于與金屬接觸的半導(dǎo)體材料的摻雜濃度或其他方面的因素導(dǎo)致功函數(shù)和金屬接近,二者不存在(或存在極小的)勢(shì)壘。因此,對(duì)于肖特基接觸而言,電壓的正極加在金屬上會(huì)產(chǎn)生一個(gè)電流隨電壓的指數(shù)變化曲線;電壓的正極加在半導(dǎo)體一側(cè),會(huì)相當(dāng)于一個(gè)無(wú)限大的電阻(模擬電路中經(jīng)常這樣近似)。這就是所謂的整流特性。 |
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