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有關(guān)電化學(xué)工作站CHI660D測(cè)試塔菲爾曲線的問題 已有6人參與
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最近用tafel曲線測(cè)材料的腐蝕性能,有幾個(gè)問題想向大家請(qǐng)教: 1)開路電位和所測(cè)得的自腐蝕電位相差很大(實(shí)驗(yàn)過程中開路電位已基本趨于穩(wěn)定后再進(jìn)行的極化曲線的測(cè)量),有時(shí)可以相差0.05~0.1V 2)發(fā)現(xiàn)同一種材料每次測(cè)得的結(jié)果都不一樣,尤其是自腐蝕電位,計(jì)算所得的腐蝕電流密度差別倒不是很大 3)掃描速率和靈敏度對(duì)結(jié)果會(huì)有影響,這是正常的嗎? 4)工作電極表面形貌對(duì)測(cè)量結(jié)果是不是影響很大?是不是每次測(cè)量前都需要將被測(cè)材料拋光?如果是鍍的涂層呢,也需要拋光嗎? 5)腐蝕電流密度的計(jì)算是用軟件自帶的 “Analysis”——“Special Analysis”工具嗎?這樣算有時(shí)候不準(zhǔn)確,請(qǐng)問怎樣才能更精準(zhǔn)一些? 請(qǐng)大神幫解決,非常感謝! |
金蟲 (正式寫手)
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我的經(jīng)歷和樓主很相似,現(xiàn)在告訴你我的經(jīng)驗(yàn),希望你不要再走我的彎路 電化學(xué)其實(shí)是很難的,至今我也沒有完全搞透。 首先,0.05-0.1V這樣的差距基本算不上差距,很接近了,不用太在意。 剛開始做實(shí)驗(yàn)的時(shí)候我也每次都拋光,后來由于時(shí)間太緊,發(fā)現(xiàn)不拋光也能得到理想的數(shù)據(jù),所以只要把材料表面的氧化膜磨掉,實(shí)驗(yàn)結(jié)果不會(huì)受太大的影響。 電化學(xué)是很靈敏的,每個(gè)人做的結(jié)果不會(huì)一樣,而且受外界環(huán)境影響大,做實(shí)驗(yàn)時(shí)盡量要外界因素穩(wěn)定,比如說不要晃動(dòng)實(shí)驗(yàn)儀器,每次做實(shí)驗(yàn)都關(guān)上窗戶拉上窗簾之類的細(xì)節(jié)問題 我知道的都已經(jīng)作出了回答,我沒有回答的是我也不知道的,希望這些能幫到你 |
金蟲 (著名寫手)
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呵呵,做電化學(xué)你還想一模一樣啊,mission impossible。 我都是深夜做實(shí)驗(yàn),這樣實(shí)驗(yàn)比較穩(wěn)定。開始測(cè)試之前靜置半個(gè)小時(shí)左右,主要以開路電壓不再變化為基準(zhǔn),此時(shí)才可開始測(cè)試數(shù)據(jù)。即使這樣,同樣的樣品,同樣的溶液也照樣不會(huì)一樣的,太多太多影響因素,表面的細(xì)微變化,溶液的細(xì)微變化,環(huán)境的細(xì)微變化都會(huì)造成很大的影響。所以就不指望了。發(fā)文章,一般一個(gè)樣品測(cè)三次,當(dāng)然五次是最好的,去除最高最低,選中間三個(gè)嘛。 關(guān)于計(jì)算電化學(xué)的動(dòng)力學(xué)參數(shù),我一般都是自己算,設(shè)備設(shè)定的需要定期校準(zhǔn),我不懂,所以早不準(zhǔn)了。下面教教你怎么算,還是挺麻煩的 1.獲得數(shù)據(jù),原始數(shù)據(jù)應(yīng)該是電流一列,電位一列,弄成TXT格式 2.導(dǎo)入origin中,我習(xí)慣把電位設(shè)為X軸,電流為y,處理電流數(shù)據(jù),先除以腐蝕面積,得到電流密度i,再對(duì)電流密度的絕對(duì)值取對(duì)數(shù),logi。作圖,得到logi-E的極化曲線圖。 3.找到尖尖對(duì)應(yīng)的電位,就是開路電位,在離開路電位±(60~120)mV處,就是線性極化區(qū)(注意陰極和陽極分別有一個(gè)),把這兩個(gè)區(qū)域的數(shù)據(jù)點(diǎn)單獨(dú)放到一個(gè)表里,作圖,會(huì)得到兩段近似直線的線段,用線性擬合就可以得到兩條線的直線方程了,交點(diǎn)就是腐蝕電位和腐蝕電流了。兩條直線的斜率就是ba 和 bc,(如果是E為橫坐標(biāo),要取倒數(shù)),就可以算極化電阻Rp=ba*bc/[2.303*icorr*(ba+bc)] |
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