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wwj_0905銀蟲 (正式寫手)
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[交流]
SEM測表面形貌的問題
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大家好,我想請問一個SEM的問題。 假如我用AB兩個材料混在一起制成了膜,去測試SEM,那么請問最終測得的表面形貌,它是對AB兩個材料導(dǎo)電性能對比度更加敏感,還是對整個膜的表面凹凸更為敏感呢?換而言之,我看到的是A和B互相共混的結(jié)構(gòu)還是AB膜的表面的結(jié)構(gòu)呢? 還有另外一個問題就是,我昨天看到有的帖子說,如果表層膜薄,而電壓過高,會導(dǎo)致這層膜被穿透,從而測得的是基底的信息,我想請問這種說法對不對?如果表面的薄膜壓根不導(dǎo)電,得到的信息會是什么呢? 非常感謝。 |
銀蟲 (正式寫手)
銀蟲 (正式寫手)
鐵桿木蟲 (正式寫手)
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如果你的材料不導(dǎo)電,通常制樣時會在表面濺鍍一層導(dǎo)電的金或鉑金,一般不把導(dǎo)電性作為襯度(對比度)的主要來源。 SEM最常用的檢測器是二次電子檢測器,對表面形貌信息更敏感。當(dāng)表面基本沒有形貌起伏時,也能體現(xiàn)出微弱的成分襯度,根據(jù)表面成分的原子序數(shù)不同而有明暗差別。 如果想強(qiáng)化成份襯度,則可采用背散射電子檢測器(沒有二次電子監(jiān)測器那么普及),對表面成分的原子序數(shù)的不同更敏感,當(dāng)成分差別不大時,也會顯現(xiàn)出形貌襯度。 也就是說,SEM圖像,不管是二次電子像還是背散射電子像,都是形貌襯度和成分襯度的混合,只是前者以形貌為主,后者以成分為主,這里的“成分”指原子序數(shù)。 至于“穿透”,是指電子束進(jìn)入樣品后的散射擴(kuò)散,電壓越高,樣品原子序數(shù)越小,則電子的穿透深度越大,跟導(dǎo)電性關(guān)系不大。對于SEM常用的二次電子檢測器,通常電子有效的“穿透”深度只有幾納米至十幾納米,而太深入的電子由于激發(fā)出的二次電子逃不出表面,不能被檢測到。 如果擔(dān)心樣品內(nèi)部或這基底信息被打出來,可以用較小的加速電壓。如果就是想看內(nèi)部信息,如果導(dǎo)電性夠好,可以用較高的加速電壓,或者加電壓的同時采用背散射電子檢測器。如果導(dǎo)電性差,就不要加電壓了,加速電壓越高,電荷累積會越嚴(yán)重。 如果樣品不導(dǎo)電,由于電荷的累積,進(jìn)入樣品,沒有被導(dǎo)走的電子會形成電場,排斥新來的入射電子,造成異常的襯度,通常得不到有用的信息,是需要避免的。 |
至尊木蟲 (著名寫手)
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7樓說的挺好的。我說的再直白些。不知道你做SEM究竟想看什么。對SEM來說一般是通過二次電子提供的是表面形貌。如果想看兩種材料的分散情況的話,建議用背散射電子,簡單來說就是原子量大的地方就會量些,小的就會暗些。 至于你說的那個穿透問題,一般來說是必太考慮這個問題的,除非膜特別薄會混入部分基底信息。如果擔(dān)心會受基底影響就把電壓調(diào)低些,拿碳做例子,1KV下電子透過的深度僅為幾十個納米;當(dāng)高達(dá)15KV時,深度可能會超過1個微米。 |

銀蟲 (正式寫手)
銀蟲 (正式寫手)
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