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wwj_0905銀蟲(chóng) (正式寫(xiě)手)
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[交流]
SEM測(cè)表面形貌的問(wèn)題
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大家好,我想請(qǐng)問(wèn)一個(gè)SEM的問(wèn)題。 假如我用AB兩個(gè)材料混在一起制成了膜,去測(cè)試SEM,那么請(qǐng)問(wèn)最終測(cè)得的表面形貌,它是對(duì)AB兩個(gè)材料導(dǎo)電性能對(duì)比度更加敏感,還是對(duì)整個(gè)膜的表面凹凸更為敏感呢?換而言之,我看到的是A和B互相共混的結(jié)構(gòu)還是AB膜的表面的結(jié)構(gòu)呢? 還有另外一個(gè)問(wèn)題就是,我昨天看到有的帖子說(shuō),如果表層膜薄,而電壓過(guò)高,會(huì)導(dǎo)致這層膜被穿透,從而測(cè)得的是基底的信息,我想請(qǐng)問(wèn)這種說(shuō)法對(duì)不對(duì)?如果表面的薄膜壓根不導(dǎo)電,得到的信息會(huì)是什么呢? 非常感謝。 |
銀蟲(chóng) (正式寫(xiě)手)
銀蟲(chóng) (正式寫(xiě)手)
鐵桿木蟲(chóng) (正式寫(xiě)手)
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如果你的材料不導(dǎo)電,通常制樣時(shí)會(huì)在表面濺鍍一層導(dǎo)電的金或鉑金,一般不把導(dǎo)電性作為襯度(對(duì)比度)的主要來(lái)源。 SEM最常用的檢測(cè)器是二次電子檢測(cè)器,對(duì)表面形貌信息更敏感。當(dāng)表面基本沒(méi)有形貌起伏時(shí),也能體現(xiàn)出微弱的成分襯度,根據(jù)表面成分的原子序數(shù)不同而有明暗差別。 如果想強(qiáng)化成份襯度,則可采用背散射電子檢測(cè)器(沒(méi)有二次電子監(jiān)測(cè)器那么普及),對(duì)表面成分的原子序數(shù)的不同更敏感,當(dāng)成分差別不大時(shí),也會(huì)顯現(xiàn)出形貌襯度。 也就是說(shuō),SEM圖像,不管是二次電子像還是背散射電子像,都是形貌襯度和成分襯度的混合,只是前者以形貌為主,后者以成分為主,這里的“成分”指原子序數(shù)。 至于“穿透”,是指電子束進(jìn)入樣品后的散射擴(kuò)散,電壓越高,樣品原子序數(shù)越小,則電子的穿透深度越大,跟導(dǎo)電性關(guān)系不大。對(duì)于SEM常用的二次電子檢測(cè)器,通常電子有效的“穿透”深度只有幾納米至十幾納米,而太深入的電子由于激發(fā)出的二次電子逃不出表面,不能被檢測(cè)到。 如果擔(dān)心樣品內(nèi)部或這基底信息被打出來(lái),可以用較小的加速電壓。如果就是想看內(nèi)部信息,如果導(dǎo)電性夠好,可以用較高的加速電壓,或者加電壓的同時(shí)采用背散射電子檢測(cè)器。如果導(dǎo)電性差,就不要加電壓了,加速電壓越高,電荷累積會(huì)越嚴(yán)重。 如果樣品不導(dǎo)電,由于電荷的累積,進(jìn)入樣品,沒(méi)有被導(dǎo)走的電子會(huì)形成電場(chǎng),排斥新來(lái)的入射電子,造成異常的襯度,通常得不到有用的信息,是需要避免的。 |
至尊木蟲(chóng) (著名寫(xiě)手)
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7樓說(shuō)的挺好的。我說(shuō)的再直白些。不知道你做SEM究竟想看什么。對(duì)SEM來(lái)說(shuō)一般是通過(guò)二次電子提供的是表面形貌。如果想看兩種材料的分散情況的話(huà),建議用背散射電子,簡(jiǎn)單來(lái)說(shuō)就是原子量大的地方就會(huì)量些,小的就會(huì)暗些。 至于你說(shuō)的那個(gè)穿透問(wèn)題,一般來(lái)說(shuō)是必太考慮這個(gè)問(wèn)題的,除非膜特別薄會(huì)混入部分基底信息。如果擔(dān)心會(huì)受基底影響就把電壓調(diào)低些,拿碳做例子,1KV下電子透過(guò)的深度僅為幾十個(gè)納米;當(dāng)高達(dá)15KV時(shí),深度可能會(huì)超過(guò)1個(gè)微米。 |

銀蟲(chóng) (正式寫(xiě)手)
銀蟲(chóng) (正式寫(xiě)手)
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